(一)渦流檢測(cè)
渦流檢測(cè)適用于檢查方矩管表面以下一般不大于6-7mm深的缺陷。渦流檢測(cè)分放置式線圈法和穿過式線圈法2種。如果鑄件表面存在缺陷,則渦流的電特征會(huì)發(fā)生畸變,從而檢測(cè)出缺陷的存在,渦流檢測(cè)的主要缺點(diǎn)是不能直觀顯示探測(cè)出的缺陷大小和形狀,一般只能確定出缺陷所在表面位置和深度。
(二)射線檢測(cè)
一般用X射線或γ射線作為射線源,因此需要產(chǎn)生射線的設(shè)備和其他附屬設(shè)施,當(dāng)方矩管置于射線場(chǎng)照射時(shí),射線的輻射強(qiáng)度就會(huì)受到鑄件內(nèi)部缺陷的影響。穿過鑄件射出的輻射強(qiáng)度隨著缺陷大小、性質(zhì)的不同而有局部的變化,形成缺陷的射線圖像,通過射線膠片予以顯像記錄,或者通過熒光屏予以實(shí)時(shí)檢測(cè)觀察,或者通過輻射計(jì)數(shù)儀檢測(cè)。此外,使用近似點(diǎn)源的微焦點(diǎn)X射線系統(tǒng)實(shí)際上也可消除較大焦點(diǎn)設(shè)備產(chǎn)生的模糊邊緣,使圖像輪廓清晰。使用數(shù)字圖像系統(tǒng)可提高圖像的信噪比,進(jìn)一步提高圖像清晰度。
(三)液體滲透
液體滲透檢測(cè)用來檢查方矩管表面上的各種開口缺陷。常用的滲透檢測(cè)是著色檢測(cè),它是將具有高滲透能力的有色液體浸濕或噴灑在鑄件表面上,滲透劑滲入到開口缺陷里面,快速擦去表面滲透液層,再將易干的顯示劑噴灑到鑄件表面上,待將殘留在開口缺陷中的滲透劑吸出來后,顯示劑就被染色從而可以反映出缺陷的形狀、大小和分布情況。除著色檢測(cè)外,熒光滲透檢測(cè)也是常用的液體滲透檢測(cè)方法,它需要配置紫外光燈進(jìn)行照射觀察,檢測(cè)靈敏度比著色檢測(cè)高。
(四)超聲檢測(cè)
利用具有高頻聲能的聲束在管材內(nèi)部的傳播中,碰到內(nèi)部表面或缺陷時(shí)產(chǎn)生反射而發(fā)現(xiàn)缺陷。反射聲能的大小是內(nèi)表面或缺陷的指向性和性質(zhì)以及這種反射體的聲阻抗的函數(shù),因此可以應(yīng)用各種缺陷或內(nèi)表面反射的聲能來檢測(cè)缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。超聲檢測(cè)作為一種應(yīng)用比較廣泛的無損檢測(cè)手段,其主要優(yōu)勢(shì)表現(xiàn)在檢測(cè)靈敏度高,可以探測(cè)細(xì)小的裂紋;具有大的穿透能力,可以探測(cè)厚截面等方面。
(五)磁粉檢測(cè)
適合于檢測(cè)表面缺陷及表面以下數(shù)毫米深的缺陷,它需要直流磁化設(shè)備和磁粉才能進(jìn)行檢測(cè)操作。磁化設(shè)備用來在鑄件內(nèi)外表面產(chǎn)生磁場(chǎng),磁粉或磁懸浮液用來顯示缺陷。當(dāng)在方矩管一定范圍內(nèi)產(chǎn)生磁場(chǎng)時(shí),磁化區(qū)域內(nèi)的缺陷就會(huì)產(chǎn)生漏磁場(chǎng),當(dāng)撒上磁粉或懸浮液時(shí),磁粉被吸住,這樣就可以顯示出缺陷來。
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